的能量密度、循环寿数和倍率功能从根本上取决于体相的理化反响、结构改变、力学功能、形状演化和界面反响等。跟着质量开展要求的逐渐的提高和资料体系的迭代立异，各种表征、

　　蔡司显微镜的多标准、多维度研讨渠道为锂离子电池正负极资料、隔阂及要害辅佐资料供给从资料样品制备、理化功能表征到智能数据剖析的全面解决方案，帮忙锂电池资料从研制到出产的整个产业链。

　　蔡司场发射扫描电子显微镜装备Gemini管和高效检测器，可对前驱体、制品和老化资料，乃至纳米级颗粒、孔隙、缺点等进行全方位表征，从描摹表征、标准测量到散布计算。不导电样品不需要涂层，能够直接调查磁性样品。

　　智能图画剖析软件ZEN供给，完成特别结构的人工智能主动辨认，辅佐数据批处理，高效处理深重的剖析作业。

　　▲ 1.使用高扩大倍数下的SEM图画调查NCM二次颗粒的全体描摹；2.使用低扩大倍数下的SEM图画调查石墨/硅混合负极颗粒的散布；3.使用背散射电子图画剖析NCM二次颗粒内部的一次晶粒散布；4.使用Zen软件对隔阂的孔隙率做多元化的剖析，孔隙率为29.89%

　　SEM集成了EDS、EBSDRaman、EBIC、EPMA和AFM等丰厚的扩展技能，可对单相、复合资料、共混资料和极片样品供给精确全面的微观功能剖析，乃至锂元素也可到达ppm级。

　　▲ 1.NCM颗粒的拉曼光谱（插图，右上）、EDS mapping（插图，右中）及飞翔时刻二次离子质谱（插图，右下）剖析；2.NCM/LMO混合资料的电子背散射衍射（EBSD）及EDS剖析

　　蔡司双束电子显微镜FIB-SEM为资料和极片供给高精度的横截面处理和成像剖析。LaserFIB是一种装备飞秒激光的激光双光束电子显微镜，十分适合于大标准极片和细胞切片的快速定位和制备，而冷冻聚集离子Cryo—FIB与冷冻搬运体系相结合，能够在低温冷冻条件下处理含液体或环境灵敏的样品，一起坚持样品的实在结构。

　　FIB-SEM与Atlas 5 3D三维重建软件合作，在切开过程中调查资料或极片样品，完成高精度接连层析成像，主动智能剖析样品内部纳米级细节的三维散布。

　　▲er FIB预处理后的石墨/硅负极极片样品截面；2.使用FIB-SEM接连层析成像边切边看、主动剖析资料、粘结剂及孔隙散布

　　由蔡司X射线显微镜(XRM)、光学显微镜和FIB-SEM组成的多标准、多维度相关剖析渠道，为锂电池资料供给从粉末、极片到电芯层次，从新鲜、活化到老化的全方位生计周期剖析。微观功能剖析，即使是商业电池里边的微米和纳米级缺点也能够很容易地辨认和剖析

　　1.使用XRM对及极片进行无损三维表征及缺点方位定位；2.使用FIB-SEM凭借Atlas 5数据定位切开极片的缺点方位；3.使用SEM及EDS对缺点方位做描摹及成分剖析

　　先进的表征和剖析技能使树立结构—加工—功能联系成为可能。蔡司多标准和多维显微镜解决方案为您供给从粉末、极片和电池层面临锂电池资料整个生计周期的多标准、多维剖析,标准显微功能剖析协助您在资料研制和出产的全过程

　　石墨、人工石墨、中心相碳微球、软炭（如焦炭）和一些硬炭等；其他非碳负极

　　，明晰的数字化图画，老练的操作软件，用户界面友爱等特征。根据Windows™渠道，VEGA系列的操作体系装备了包含中文在内的多语种

　　本帖最后由 淘淘发烧友 于 2019-7-26 16:57 修改 影响

　　)SEM失效剖析 /

　　剖析 /

　　失效剖析 /

　　，SEM) /

　　。 3、X射线：因为内壳层电子跃迁发生，不同原子发生的能量不同，用于EDS剖析。 入射电子与样品效果发生的信号 SEM原理 1.2

　　的原理和特色 /

　　技能使用 /

　　Sigma300电子显微镜能够对各种原料的导电和不导电样品、不一样的标准和形状的样品外表微观结构能够进行高分辩调查。装备能谱和背散射电子衍射仪附件能轻松完成样品外表微观区域内的成分和织构剖析

　　Sigma 300电子显微镜 /

　　内部缺点的技能。SEM-ECCI技能的开展在缺点表征范畴代替了一部分透射

　　在半导体范畴的使用效果 /

　　) /

　　共射电路遇上模仿开关，可变扩大倍数，原来如此简略#硬件规划遇到过哪些坑？